光纜大衰耗點的查找定位及處理

   1.一般產(chǎn)生大衰耗點的位置

   光纜接續(xù)完成后，我們一般要對整個中繼段用OTDR進行測試，通過測試，可以檢驗接續(xù)完的光纜中繼段的光特性是否符合施工規(guī)范和驗收標準的要求，主要從以下幾個方面進行考核：中繼段全程　總衰耗是否小于設(shè)計規(guī)定（也就是平均衰耗系數(shù)是否小于設(shè)計規(guī)定值）；中繼段接頭雙向平均衰耗值是否小于驗收標準和設(shè)計要求；中繼段后向散射曲線是否斜率均勻，曲線平滑，除正常的接頭衰耗點的小臺階外，曲線上應(yīng)無大衰耗臺階。利用OTDR進行光中繼段測試和人衰耗點定位時，首先應(yīng)正確地設(shè)置儀表的測試參數(shù)，諸如測試量程、測試波長、脈沖寬度、折射率和平均化處理時間等。對測試量程的設(shè)定，一般根據(jù)中繼段長度，選擇合適的量程，使整個中繼段曲線占據(jù)整個顯示　屏幕的２／３為宜；測試波長根據(jù)系統(tǒng)采用的波長確定，對長途干線光纜一般為1310nm和1550nm折射率根據(jù)使用廠家的光纖折射率設(shè)定；脈沖寬度是一個重要的設(shè)置參數(shù)，脈沖寬度過小，測試的動態(tài)范圍太小，不能完整地測試整個曲線，表現(xiàn)為曲線末端噪聲信號大，所得到的曲線質(zhì)量差；脈沖寬度過大，測試的范圍越大，但測試的精確度越差，一般根據(jù)被測中繼段長度，選擇一個合適的測試脈沖寬度，既要考慮測試距離，還要考慮測試精度，通過試測，選擇一個合適的脈沖寬度；平均化時間的設(shè)定根據(jù)平均化的曲線質(zhì)量試驗確定，使平均化后的曲線尾端上無明顯毛刺即可。為了精確地確定線路上光纖故障點的位置，可利用OTDR分析軟件對儀表測試出的曲線進行分析，一般有接頭盒內(nèi)故障和纜身故障兩種情況?！?/p>

   2.大衰耗點的處理

   首先確定大衰耗點是否是接頭位置，一般在接頭位置，所有光纖均有或大或小的衰耗臺階，可將多條光纖的曲線同時分析，可看到所有曲線在接頭點均有大小不等的臺階，我們可對各光纖同一位置的接頭雙向衰耗值進行測試和計算，對大于指標要求的做好記錄，并安排對接頭位置的大衰耗點打開接頭盒進行處理。對不是接頭位置的部分光纖的大衰耗點，我們將多條曲線同時分析可看到有的曲線在此點有衰耗臺階，有的就沒有衰耗臺階，據(jù)此可以判斷，這不是接頭位置的故障，而是光纜線路中間光纜有故障。對接頭處的故障，其位置比較好定位，對非接頭位置的故障，定位比較困難，一般原則是對離測試端較近的故障點，可在端站測試，利用OTDR測出故障點離最近接頭點的距離，對離測試點較遠的故障點，由于距離遠，測試的精確度相對下降，定位準確較困難，可在就近接頭盒處打開，接入　OTDR進行測試，測出故障點的距離后，并結(jié)合施工原始資料記錄的各種余留，根據(jù)直埋徑路情況，實地丈量出故障點的大致位置，一般可定位在十幾米　的范圍內(nèi)，這樣開挖的范圍就比較小，節(jié)省了施工費用，縮短了處理故障的時間。對接頭處的大衰耗點，我們采用打開接頭盒進行重新熔接處理，用OTDR實時監(jiān)測，直到接續(xù)損耗達到要求。有時經(jīng)多次熔接，接續(xù)損耗達不到要求，這時就要檢查是否光纖束管變形引起光纖受壓，盤纖盤留時光纖彎曲半徑是否過小，光纖是否受壓等。經(jīng)這些檢查后，如果還不能達到要求，就要考慮接頭盒前后的光纜是否有問題。因為端頭的光纜在施工中比較容易受到損傷，這時就要再截去一段光纜重新熔接全部光纖。為了避免出現(xiàn)此類問題，我們在接續(xù)前，可仔細檢查接頭余留光纜，對可疑端頭光纜采取多截去一部分的做法，以避免此類問題出現(xiàn)。對線路中間的光纜大衰耗點的處理，在找到故障點后，可發(fā)現(xiàn)此類故障或者是光纜出現(xiàn)過打背扣現(xiàn)象，或者是光纜受到損傷，如被石頭等硬物硌傷使光纜出現(xiàn)凹進、壓扁等變形現(xiàn)象，光纖束管變形而導(dǎo)致光纖受壓，產(chǎn)生大衰耗點，或者是其它外力　因素造成光纜受損。處理時，可把此段光纜截去從新熔接一般經(jīng)此處理，大衰耗點基本消失。對在施工時發(fā)現(xiàn)的打背扣故障點，應(yīng)住故障點做好適當余留，以便處理。對受損嚴重的，加接頭盒處理時，可剝開光纜外護套，對有變形的束管進行處理，必要時對受損束管的光纖進行接續(xù)。測試點應(yīng)聯(lián)系現(xiàn)場熔接人員分別在熔接完畢后進行一次測試，光纖盤留后進行一次測試，接頭盒緊固密封后進行一次測試，經(jīng)測試點測試確認衰耗點故障消失后，現(xiàn)場人員方可撤離。